■製品名：WS500HS 損失スペクトル, MFD, Aeff Cutoff & NA測定システム
■製品名：WS500HS 損失スペクトル, MFD, Aeff Cutoff & NA測定システムPE.fiberoptics WS500測定システムは、PE.fiberoptics 500シリーズ光学テストシステムのハイブリッドバージョンで、多くのパラメータを測定できます。
シングルモード/マルチモードのファイバ、コンポーネント、ケーブルなどのスペクトル減衰、カットオフ波長、モードフィールド径（MFD)、有効断面積（Aeff）、開口数（NA)などの測定が可能です。
| ■特徴
•IEC、TIA、ITUに完全準拠（すべての測定でIECの「リファレンス」テスト方法を使用）
•20秒で高速減衰測定（「IECリファレンス」カットバック方式）
•20秒でMFD / AeffおよびオプションのNA測定（「IECリファレンス」ファーフィールドスキャン法）
•10秒でカットオフ測定（「IECリファレンス」シングルモードベンド＆代替マルチモードリファレンス法）
•真のハイダイナミックレンジ減衰測定（50dB snr = 1）、最大35dBの測定損失。
•新しいオペレーティングソフトウェア「PEcon」はWindows7™、Windows8™、Windows10™と互換性、デスクトップ/ラップトップ/タブレットPC。
•超安定出力、長寿命のLED光源
•長寿命、高精度、高安定、ヒステリシスフリー波長設定のソリッドステートモノクロメータ。
•減衰とMFDの測定では、シングルモード入射でG657b3ファイバのより正確な測定が可能。 |
■暫定仕様
| 説明 |
損失スペクトル、カットオフ波長、モードフィールド径、シングルモード/マルチモードファイバ、コンポーネント/ケーブルの開口数測定用測定システム。
実験室や工場での測定のためにメインユニットと制御PCで構成されています。 注文時に測定オプションを組み込めます。 |
| 測定法 |
IEC 60793-1-40/43/44/45
IEC 60794
TIA-455 FOTP-80/178/191
ITU-T G.650 |
| 損失 |
ファイバインターフェース |
光源 |
ディテクタ |
波長選択 |
|
ピエゾ最適化FiberCellTMを使ったシングルモードベアファイバ入射 |
熱安定化LED
1310nm & 1550nm
(1400nm オプション) |
DSP Lock-in付冷却InGaAs PINダイオード |
(SSM)ソリッドステートモノクロメータ |
| カットオフ |
ファイバインターフェース |
光源 |
ディテクタ |
波長選択 |
|
FiberCellTMを使ったマルチモードベアファイバ入射 |
タングステンランプ |
DSP Lock-in付冷却InGaAs PINダイオード |
(SSM)ソリッドステートモノクロメータ |
| モードフィールド径 |
ファイバインターフェース |
光源 |
ディテクタ |
波長選択 |
|
ピエゾ最適化FiberCellTMを使ったシングルモードベアファイバ入射 |
熱安定化LED
1310nm & 1550nm
(他の波長はオプション) |
DSP Lock-in付小面積InGaAs PINダイオード |
(SSM)ソリッドステートモノクロメータ |
| 開口数 |
ファイバインターフェース |
光源 |
ディテクタ |
波長選択 |
|
FiberCellTMを使ったベアファイバ入射 |
熱安定化LED,
850nm |
DSP Lock-in付小面積InGaAs PINダイオード |
フルスペクトルLED |
|
損失 |
カットオフ |
MFD, Aeff |
NA (オプション) |
| 波長 |
1150nm to 1650nm
(最適波長:
1310nm ± 25nm &
1550nm ± 25nm) |
1000nm to 1650nm |
1150nm to 1650nm
(最適波長:
1310nm ± 25nm &
1550nm ± 25nm) |
850nm |
| スペクトル幅 |
<4nm |
<10nm |
<4nm |
<100nm |
| 波長精度 |
<0.5nm |
<0.5nm |
<0.5nm |
NA |
| スキャンステップ(min.) |
0.001nm |
0.001nm |
0.0025° |
0.0025° |
| ファーフィールドスキャン範囲 |
NA |
NA |
0.5NA まで
(0.8NA オプション) |
0.5NA まで |
| ダイナミックレンジ(SNR=1) |
50dB |
35dB |
50dB |
30dB |
| 絶対精度/不確定性*** |
± 0.03dB/dB |
± 10nm |
± 2% |
± 0.01 |
| 再現性(1σ(n-1)) |
0.03dB(loss<3dB) |
<10nm |
<=0.05μm |
<=0.005 |
| 動作範囲 |
保管範囲 |
| +10 to +35℃, 0 to 80% RH (無結露) |
+10 to +55℃, 0 to 80% RH (無結露) |
|
|
| サイズ |
重量 |
| 150cm x 49cm x 49cm
(ファイバテーブルを含む)
(構成に依存) |
約 35kg
(構成に依存) |
|
|
| 電源要件 |
| +10 to +35℃, 0 to 80% RH (無結露) |
* 140波長。 引用時間は、ロングスキャンとカットバックスキャンの合計です。
* 2引用時間は波長ごとです。
* 3マルチモードリファレンス方式によるシングルスキャン。
***精度/不確かさは、NPL標準で直接校正。
転送標準がフィールドで使用されている場合、精度/不確実性はexpended uncertainty principle に基づいて再校正時に計算されます。
ノート：引用されている時間はすべて典型的な概算で、測定のセッティング毎に異なる場合があります。
引用されているすべての時間は、スキャン/データ取得のみを指しま、サンプルの取り扱いと準備時間は含まれません。
■注文情報
